扫描电子显微术 - One CGIAR

扫描电子显微术

Çok küçük bir alana odaklanan yüksek enerjili elektronlar kullanarak örnek yüzeyini tarama sonucu yüksek çözünürlüklü ve üç boyutlu görüntü alınmasını sağlayan bir elektron mikroskobu türü.
来源: http://terim.tuba.gov.tr/
创建的: 5/9/23
(tr)
Scanning electron microscopy is a characterization technique that images and analyzes a specimen by scanning an accelerated electron beam, followed by selectively collecting and recording secondary electrons, back-scattered electrons, and other signals arising from the beam and specimen interactions.
创建的: 4/27/23
(en)

http://aims.fao.org/aos/agrovoc/c_a87b3af2

RDF/XML TURTLE JSON-LD 创建的 2023/4/27, 最后修改 2024/9/30

Skosmos