Skip to main

Concept information

วิธีการ > กล้องจุลทรรศน์ > กล้องจุลทรรศน์แบบส่องกราด > กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด

المصطلح المفضل

void:inDataset: http://aims.fao.org/aos/agrovoc/void.ttl#Agrovoc

تاريخ الإنشاء: 2025-09-08T04:04:12

skos:notation: a87b3af2

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด  

تعريف

  • Information Çok küçük bir alana odaklanan yüksek enerjili elektronlar kullanarak örnek yüzeyini tarama sonucu yüksek çözünürlüklü ve üç boyutlu görüntü alınmasını sağlayan bir elektron mikroskobu türü.

    المصدر: http://terim.tuba.gov.tr/

    تاريخ الإنشاء: 5/9/23

    (tr)
  • Information Scanning electron microscopy is a characterization technique that images and analyzes a specimen by scanning an accelerated electron beam, followed by selectively collecting and recording secondary electrons, back-scattered electrons, and other signals arising from the beam and specimen interactions.

    تاريخ الإنشاء: 4/27/23

    (en)

بلغات أخرى

URI

http://aims.fao.org/aos/agrovoc/c_a87b3af2

تحميل هذا المفهوم:

RDF/XML TURTLE JSON-LD تاريخ الإنشاء 27‏/4‏/2023, آخر تعديل 8‏/9‏/2025